AND 爱安德 半微量分析天平 BA-125DTE 校准方法，半微量称量使用指南

一、BA-125DTE 设备介绍AND 爱安德 BA-125DTE 半微量分析天平，双量程设计，彩色触摸屏，适配半微量高精度称量场景，广泛用于材料、化工、半导体实验室。半微量称量精度要求高，微小气流、震动都会影响结果，这款天平配备防风罩与高性能传感器，搭配自动内校，保障半微量试样称量数据可靠。

二、校准前准备工作将天平固定在专用防震工作台，调平水平，确认无阳光直射、无持续气流。接通电源，按规定时间预热，等待传感器稳定。清理秤盘、防风罩内的粉尘与样品残渣，准备配套标准砝码，砝码提前放置在实验室环境恒温，消除温差带来的称量偏差。

三、校准操作完整流程仪器自检完成，进入称重界面，打开校准程序。清空秤盘，等待零点稳定。按照屏幕提示，将标准砝码平稳放置秤盘中心，关闭防风罩，等待读数稳定。仪器自动运行校准计算，提示校准完成，取下砝码，回到称量界面。校准结束后，使用砝码复测，验证称量精度是否达标。

四、半微量称量使用与维护半微量样品称量操作务必轻柔，快速完成称量，降低环境干扰。每次实验结束清洁秤盘，定期维护。仪器移位、长时间停机重启，必须重新校准。日常使用避免震动冲击，定期清理防风罩内粉尘，减少气流对高精度称量的干扰。